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"分析" 課程共 1050 筆,顯示第 151-160 筆
  1. 151. MSA量測系統分析在Minitab應用實務 (103年8月 台北場)
    • [台北]
    • [2014/08/23]
    • [$2,000]
    目標: 1. 了解量具之規劃及分析目的 2. 可藉由此MSA管理概念之佈達,以協助公司提升品質意識 3. 可運用上課所學之知識到工作現場 4. 個人基本能力之提升並對品管領域有基礎之認知
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  2. 152. 專利分析師職能認證課程-全系列(台北班) (0823系列二(工研院))
    • [台北]
    • [2014/08/23]
    • [$2,900]
    本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主,專利佈局為輔,教授如何將蒐集到資料,有效使用專利分析方法,將專利資料做有系統的分類、統計、整理,並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)
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  3. 153. 專利分析師職能認證課程-全系列(台北班) (0823系列二(工研院))
    • [台北]
    • [2014/08/23]
    • [$2,900]
    本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主,專利佈局為輔,教授如何將蒐集到資料,有效使用專利分析方法,將專利資料做有系統的分類、統計、整理,並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)
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  4. 154. 【產品EMC系統分析師認證班-高階】(台北班) (0904-0905(工研院))
    • [台北]
    • [2014/09/04]
    • [$7,500]
     本課程依據產業職務需求,有系統地培養學員完成該職務所擔任的工作,使學員可以於課後,快速應用於工作職務。課程分為初階、中階、高階三部分,分別針對產品測試工程師、產品整合工程師、產品系統分析師、產品技術經理等,依據職務需求進行規劃。
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  5. 155. 專利分析師職能認證課程-全系列(台北班) (0905系列三(工研院))
    • [台北]
    • [2014/09/05]
    • [$2,900]
    本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主,專利佈局為輔,教授如何將蒐集到資料,有效使用專利分析方法,將專利資料做有系統的分類、統計、整理,並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)
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  6. 156. 專利分析師職能認證課程-全系列(台北班) (0906系列四(工研院))
    • [台北]
    • [2014/09/06]
    • [$2,900]
    本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主,專利佈局為輔,教授如何將蒐集到資料,有效使用專利分析方法,將專利資料做有系統的分類、統計、整理,並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)
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  7. 157. 電子裝備系統間,系統內干擾分析與防制 (0916-0917(工研院))
    • [台北]
    • [2014/09/16]
    • [$6,500]
    電子裝備系統可分為發射與接收,而周邊其他干擾源對接受(受害源)的干擾分析工作,可分系統間(Inter System)與系統內(Intra System)兩大部份。 一般先執行干擾源對對受害源的信號強度與頻率耦合的系統間干擾分析,再計入受 ...
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  8. 158. 專利分析師職能認證課程-全系列(台北班) (0919系列五(工研院))
    • [台北]
    • [2014/09/19]
    • [$2,900]
    本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主,專利佈局為輔,教授如何將蒐集到資料,有效使用專利分析方法,將專利資料做有系統的分類、統計、整理,並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)
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  9. 159. 企業預算編列暨差異分析實務講座 (103年9月)
    • [台北]
    • [2014/09/24]
    • [$3,000]
    預期效益 1.協助企業擬訂合理且可行之目標,達到「目標管理」之願景 2.運用預算監督實際執行,發現問題,以降低成本提升效率 3.作為企業績效衡量之依據,達到有功則賞,有過則罰,賞罰分明 4.作為企業制定攸關決策之依據
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  10. 160. 組合公差分析與應用研訓班 (1015 (工研院) 台北班)
    • [台北]
    • [2014/10/15]
    • [$3,600]
    由於現代產品日趨複雜精密,在追求高品質的同時,勢必要在設計時更加應注意精度的設計與公差分配,以往設計人員常以經驗或試誤的方法擬定公差,由於公差累積的結果造成無法製造或裝配不易的狀況,甚至常有品質不良情形。若能瞭解公差的基本觀念,運用尺寸鏈的 ...
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