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系統晶片可測性設計

本課程著重於數位電路及內嵌式記憶體測試基本觀念及常用可測性設計觀念之介紹

  系統晶片中大部分電路為數位及記憶體電路,若要在測試階段可以有效地測試這些電路,則系統晶片設計者需要在設計階段的針對這些電路做適當及好的可測性設計。因此測試觀念對晶片設計者是非常重要之知識,本課程著重於數位電路及內嵌式記憶體測試基本觀念及常用可測性設計觀念之介紹

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課程介紹

 

 系統晶片可測性設計

系統晶片中大部分電路為數位及記憶體電路,若要在測試階段可以有效地測試這些電路,則系統晶片設計者需要在設計階段的針對這些電路做適當及好的可測性設計。因此測試觀念對晶片設計者是非常重要之知識,本課程著重於數位電路及內嵌式記憶體測試基本觀念及常用可測性設計觀念之介紹


課程特色/目標

 

 獲得基本數位電路及內嵌式記憶體測試觀念,包含瑕疵模型、測試樣型產生、瑕疵模擬等觀念。同時,可以獲得在數位電路及內嵌式記憶體電路可測性設計技術觀念

課程對象

 

 對於數位電路及內嵌式記憶體電路可測性設計技術有興趣同仁

講師簡介

 

-李老師-

【學歷】國立清華大學 電機工程所 博士

【專長】數位積體電路設計與測試、半導體記憶體設計與測試、三維積體電路設計與測試、可靠性/容錯系統設計






課程大綱

1.超大型積體電路測試簡介
2.瑕疵模型化與模擬
3.測試樣型產生技術
4.可測性設計
5.記憶體測試
6.記憶體自我測試
7.記憶體自我修復







結訓與認證

  課程結束後將由工研院產業學院發予結業證書

價格

12,000元/人

 

常見問題

 

 開課日期:2015年12月02、09、16日(星期三) 09:30∼16:30,共18小時。

開課地點:工研院產業學院台北學習中心 (實際上課地點依通知為準!)

 

 



簡介


產業學院緣起
  依據行政院「挑戰2008:國家發展重點計畫」下之「國際創新研發基地」與「產業高值化」兩計畫,首重產業科技人才的效能。

•911216經科字第09103373120號函:經濟部將本院籌設工研院產業學院之工作,列為因應產業結構轉型,提 ... more

*請務必將下列資料填妥,資料送出後,開課單位將會主動與您聯繫。

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