專利分析師職能認證課程(台北班)
專利分析師職能認證課程(台北班)
本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主，專利佈局為輔，教授如何將蒐集到資料，有效使用專利分析方法，將專利資料做有系統的分類、統計、整理，並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)。
| 【專利分析師職能認證課程】(全系列)_(台北班) |
| 【課程時間】 |
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編號 |
單元名稱 |
時數 |
舉辦日期 |
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1 |
專利導論+ US專利檢索 |
6 hr |
102/08/23 |
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2 |
TW專利檢索+實作 |
6 hr |
102/08/24 |
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3 |
申請專利範圍、專利家族與 |
6 hr |
102/09/06 |
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4 |
專利地圖分析法與 |
6 hr |
102/09/07 |
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5 |
侵權鑑定與迴避設計+實作 |
6 hr |
102/09/27 |
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6 |
成果發表考核與期末考試 |
6 hr |
102/10/04 |
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單門報名課程（不含實作，且不提供證書），費用2,900元 |
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| ■ 課程介紹 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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成功的專利分析是企業獲利、購併、阻絕對手進入市場的最佳利器，習得如何有效利用專利分析，才能蒐集最具價值的技術研發資訊，從龐雜的專利訊息裡找到其中潛在龐大利益。 |
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| ■ 課程目標 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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本課程以基礎的專利檢索和分析技術為主，專利佈局為輔，教授如何將蒐集到資料，有效使用專利分析方法，將專利資料做有系統的分類、統計、整理，並將結果用不同圖示加值轉換成有用的專利「情報」(intelligence)
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■ 課程大綱 |
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| ■ 講師介紹 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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李 老師 【經歷】元智大學機械系兼任講師
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| ■ 備註 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ※學員需自備NB※ | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ■ 開課對象 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 智權、法務、工程師、專利等相關人員，及有興趣之人員 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ■課程地點：工研院產業學院 台北學習中心，實際地點依上課通知為準! | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ■ 課程時間 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 請見開課內容表，9:30~12:00; 13:00~16:30 共36小時 (學員亦可選擇參加單門課程，但”無”認證資格) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ■ 能力認證 / 鑑定方式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 1. 本課程學員可自由選擇參加單門課程（不需參與全系列課程）。 2. 全系列每堂課之課後評鑑平均成績達80分以上、及出席率達70%者，將取得由工研院產業學院認證之【專利分析師職能認證課程】資格證明。 |
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| ■ 課程費用 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| ■連絡人:02-27363878 |
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■報名方式:(煩請您確實填寫報名表資料) |
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